主讲人:刘征

开始时间：2023-12-16 9:00

地点：37000cm威尼斯111报告厅

报告人简介：刘征，1969年出生，加拿大籍，国际光学工程学会会士，IEEE高级会员，现任加拿大不列颠哥伦比亚大学教授，曾任日本丰田工业大学教授、加拿大国家研究委员会研究员(Research Officer)，新加坡南洋理工大学研究员(Research Fellow)，致力于工业智能系统、数据信息融合的研究，取得丰硕成果，成功转化为企业产品；主持或参与科研项目60余项（约五百万加元），有美国、加拿大国家2项发明专利在申请审查中，应邀参加4次国际会议并作报告，主编出版3部学术专著，发表约200篇SCI论文，荣获国际模式识别第七届泛太平洋图像与影像会议最佳应用论文奖项（2015年）。

报告内容简介：无损检测与评价，即利用物质的声、光、磁和电等特性，在不损害或不影响被检对象使用性能的前提下，检测被检对象中是否存在缺陷或不均匀性，给出缺陷的大小、位置、性质和数量等信息，进而判定被检对象所处技术状态（如合格与否、剩余寿命等）的所有技术手段的总称。无损检测与评价技术是工业发展必不可少的有效工具，在一定程度上反映了一个国家的工业发展水平。发展无损检测技术的意义，不仅仅在于研制更好的无损检测设备和仪器，更在于切实的通过发展无损检测技术来推动工业水平的发展，进而推动国家经 济的发展！